技術原理

低頻電磁檢測技術LFET(Low Frequency Electromagnetic Technique)使用離散的激勵和接收傳感器線圈,激勵線圈在較低的頻率(<10Hz)下激發產生一個交變電磁場,并穿透被測材料,從其一側傳導到另一側。在沒有壁厚減薄和缺陷的地方,電磁場產生一定信號強度衰減,如圖1所示;當探頭移動到有壁厚減薄和缺陷的地方時,可以檢測到一個較強的電磁場信號,如圖2所示。

  電磁成像技術

缺陷是有體積形狀的,尤其是壁厚的減薄必須要用三維參量描述其變化。低頻電磁檢測發展了相位分辨技術,在信號的分析和處理中采用了相位分析、頻率分析和幅值鑒別等多種方法,能夠對電磁信號的幅度、相位變化進行分析處理;

同時研發出了電磁三維成像技術,根據缺陷產生機理研究出相應信息處理技術和顯示手段,從而得出更可靠的缺陷信息,可以直接分辨出壁厚減薄、點蝕。另外其獨有的3D旋轉顯示技術,可以直觀地發現缺陷的位置。